國家衛生研究所資助的研究對近200名兒童進行了研究。
童年發燒時產生的癲癇通常是良性的。但是如果持續的時間較長的話，他們可以預示在以後的生活中癲癇的風險。一項有美國國立衛生研究院支持的研究表明，大腦成像和記錄大腦的活動可以幫助確定風險最高的兒童。研究表明，發燒時引起的癲癇時間較長的話，有些孩子有急性腦損傷，不正常的大腦解剖，改變大腦的活動，或結合的跡象。
根據神經學的研究，磁共振成像可以在72小時內掃描兒童的發熱性癲癇持續狀態。發生急性損傷時，大腦一側的海馬區會照亮（箭頭，左下）。
位於紐約市的艾伯特愛因斯坦醫學院、蒙特佛羅裏醫學中心、神經科學研究教授Hyman Climenko和神經病學、兒科和流行病學教授、醫學博士、哲學博士、研究調查員Shinnar說，“我們的目標是發展生物標誌物，告訴我們是否有一個特定的兒童存在癲癇的風險。這可以幫助我們制定戰略以防止混亂。”
在高燒發生過程中產生的癲癇，稱爲熱性驚厥，影響3%到4%的兒童。大多數兒童能夠迅速恢復，而且健康不會受到影響。然而，衆所周知，在童年有一個或多個長期驚厥卻使癲癇發生的風險增加。一些專家估計癲癇病的風險率是發熱性癲癇持續狀態30%到 40 %，癲癇或一系列的癲癇發作可持續30分鐘至數小時。
Shinnar博士說，“雖然大多數兒童可以從發熱性癲癇中完全恢復，有些人可能會繼續發展成癲癇。我們無法判斷。”
在童年長期發熱性癲癇研究的重點是研究具體序列的風險和顳葉癲癇。這是一種最常見的癲癇發作形式，特點是在顳葉，是大腦最重要的記憶區域。
在發熱性癲癇發生的幾天之內，參與本研究中的兒童接受磁共振成像和腦電圖的掃描。後一種方法使用傳感器在頭皮上記錄大腦的活動，往往是用於診斷和監測癲癇。磁共振成像結果在2012年7月公佈，和腦電圖結果於今天發表。雙方的論文都發表在神經病學上。
核磁共振掃描顯示，發熱性癲癇往往與海馬區的異常相關。海馬區形狀像內顳葉的豆莢。發熱性癲癇的191名兒童中，22個（11.5%）兒童通過磁共振成像顯示海馬區損傷，20個（10.5%）兒童出現海馬區發育異常。磁共振成像異常結果在產生簡單的驚厥的兒童中是罕見的，持續10分鐘或更少。96個癲癇的孩子中，只有2個（2.1%）出現海馬區發育異常，沒有人出現腦損傷。
